¿qué es el sem características?
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SEM significa microscopio electrónico de barrido. El SEM es un microscopio que utiliza electrones en lugar de luz para formar una imagen. Desde su desarrollo a principios de la década de 1950, los microscopios electrónicos de barrido han desarrollado nuevas áreas de estudio en las comunidades médica y de ciencias físicas. El MEB ha permitido a los investigadores examinar una variedad mucho mayor de especímenes.
El microscopio electrónico de barrido tiene muchas ventajas sobre los microscopios tradicionales. El MEB tiene una gran profundidad de campo, lo que permite enfocar una mayor parte de la muestra al mismo tiempo. El MEB también tiene una resolución mucho mayor, por lo que las muestras muy próximas entre sí pueden ampliarse a niveles mucho más altos. Como el MEB utiliza electroimanes en lugar de lentes, el investigador tiene mucho más control sobre el grado de aumento. Todas estas ventajas, así como las imágenes realmente sorprendentes, hacen del microscopio electrónico de barrido uno de los instrumentos más útiles en la investigación actual.
El microscopio electrónico de barrido es un instrumento que produce una imagen ampliamente ampliada utilizando electrones en lugar de luz para formar una imagen. En la parte superior del microscopio se produce un haz de electrones mediante un cañón de electrones. El haz de electrones sigue una trayectoria vertical a través del microscopio, que se mantiene en el vacío. El haz viaja a través de campos electromagnéticos y lentes, que enfocan el haz hacia la muestra. Una vez que el haz llega a la muestra, los electrones y los rayos X son expulsados de la misma.
Microscopía electrónica de barrido pdf
Un microscopio electrónico de barrido (SEM) es un tipo de microscopio electrónico que produce imágenes de una muestra escaneando la superficie con un haz de electrones enfocado. Los electrones interactúan con los átomos de la muestra, produciendo varias señales que contienen información sobre la topografía de la superficie y la composición de la muestra. El haz de electrones se escanea siguiendo un patrón de barrido de trama, y la posición del haz se combina con la intensidad de la señal detectada para producir una imagen. En el modo más común de SEM, los electrones secundarios emitidos por los átomos excitados por el haz de electrones se detectan mediante un detector de electrones secundarios (detector Everhart-Thornley). El número de electrones secundarios que pueden detectarse, y por tanto la intensidad de la señal, depende, entre otras cosas, de la topografía de la muestra. Algunos MEB pueden alcanzar resoluciones superiores a 1 nanómetro.
Las muestras se observan en alto vacío en un MEB convencional, o en bajo vacío o en condiciones húmedas en un MEB de presión variable o ambiental, y en una amplia gama de temperaturas criogénicas o elevadas con instrumentos especializados[1].
Microscopio sem
El microscopio electrónico de barrido (SEM) es una técnica de imagen muy útil que utiliza un haz de electrones para adquirir imágenes de gran aumento de las muestras. Muy similar al microscopio electrónico de transmisión (TEM), el SEM mapea los electrones reflejados y permite la obtención de imágenes de muestras gruesas (~mm), mientras que el TEM requiere muestras extremadamente delgadas para la obtención de imágenes; sin embargo, el SEM tiene menores aumentos. Aunque tanto el MEB como el MET utilizan un haz de electrones, la imagen se forma de forma muy diferente y los usuarios deben ser conscientes de cuándo es ventajoso cada microscopio.
Todos los microscopios sirven para ampliar el tamaño de un objeto y permiten ver regiones más pequeñas dentro de la muestra. Los microscopios forman imágenes ópticas y, aunque instrumentos como el MEB tienen aumentos extremadamente altos, la física de la formación de la imagen es muy básica. La lente de aumento más sencilla puede verse en la figura \N(\PageIndex{1}\N). La fórmula del aumento se muestra en \ref{1}, donde M es el aumento, f es la distancia focal, u es la distancia entre el objeto y la lente, y v es la distancia de la lente a la imagen.
Principio del microscopio electrónico de barrido
El primer paso de una evaluación científica es observar a fondo la forma del material. Para ello, disponemos de una lupa o un microscopio óptico. Pero, mientras se utilice la luz, no podemos ver nada más pequeño que la longitud de onda de la luz y, por tanto, observar una nanoestructura es extremadamente difícil.
El microscopio electrónico de barrido (SEM) que se presenta aquí utiliza un haz de electrones cuya longitud de onda es más corta que la de la luz y, por tanto, es posible observar una estructura a escala de varios nm.
El microscopio electrónico de barrido, que se utiliza en diversos campos como la medicina, la biología, los metales, los semiconductores y la cerámica, está ampliando sus fronteras de aplicación. Con la combinación de abundantes accesorios y dispositivos, su capacidad se está ampliando. El microscopio electrónico de barrido está considerado como una de las herramientas más potentes que se utilizan en los institutos de I+D y en los centros de inspección de control de calidad de todo el mundo.
El microscopio electrónico de barrido (en adelante, “SEM”) permite observar con claridad estructuras superficiales muy pequeñas, lo que no es posible con un microscopio óptico (en adelante, “OM”). Además, como puede proporcionar imágenes con mayor profundidad focal, permite observar imágenes tridimensionales, con un sentido similar al que se tiene cuando se observa una sustancia a simple vista, ampliando la superficie del espécimen que tiene una estructura rugosa.
