microscopía electrónica de barrido: principio e instrumentación
El primer microscopio electrónico de barrido fue fabricado inicialmente por Mafred von Ardenne en 1937 con el objetivo de superar el microscopio electrónico de transmisión. Utilizó una potencia de alta resolución para escanear una pequeña trama mediante un haz de electrones que se enfocaba en la trama. También pretendía reducir los problemas de aberraciones cromáticas de las imágenes producidas por los microscopios electrónicos de transmisión. Los científicos y las instituciones de investigación, como la Cambridge Scientific Instrument Company, realizaron más estudios y finalmente desarrollaron un microscopio electrónico de barrido en 1965, al que llamaron Stereoscan. El precio del microscopio electrónico de barrido (SEM) es de aproximadamente un millón de dólares.
El microscopio electrónico de barrido (MEB) es un tipo de microscopio electrónico que explora las superficies de los microorganismos y que utiliza un haz de electrones que se mueven a baja energía para enfocar y explorar las muestras. El desarrollo de los microscopios electrónicos se debió a la ineficacia de la longitud de onda de los microscopios ópticos. Los microscopios electrónicos tienen longitudes de onda muy cortas en comparación con el microscopio óptico, lo que permite un mejor poder de resolución.
microscopía electrónica de barrido (sem): una revisión
En el presente estudio se presenta la definición de la microscopía electrónica de barrido (MEB) en términos de los principales componentes del instrumento y el proceso paso a paso del sistema MEB. Se proporcionaron dibujos esquemáticos con imágenes de los componentes del MEB para comprender el procedimiento de trabajo de forma fácil y real. También se presentaron y discutieron los tipos de MEB. También se presentó la capacidad del espectrómetro de energía dispersiva (EDS); esto incluyó los antecedentes históricos del EDS y cómo funciona de acuerdo con el SEM. La existencia de la capacidad de EDS con el instrumento SEM es muy esencial para el análisis cualitativo y cuantitativo de cualquier espécimen. En ausencia de EDS, sólo se puede obtener información sobre la topografía de la superficie de la muestra mediante el MEB. Se introducen y discuten las dos características más potentes de la imagen SEM, a saber, la imagen de electrones secundarios y la imagen de electrones retrodispersados. Entender el principio de funcionamiento de ambas características es muy importante para tener un conocimiento completo del funcionamiento del instrumento SEM. El MEB se caracteriza por su fácil manejo. Con este conocimiento se puede realizar el análisis y la obtención de imágenes sin problemas.
microscopio electrónico de barrido
ResumenLa obtención de una imagen de bajo aumento (<1000x) de un objeto tridimensional rugoso es notablemente fácil con un MEB. Sin embargo, para obtener toda la información que el MEB puede proporcionar, es necesario comprender los principales modos de microscopía y los parámetros del haz de electrones que los afectan. Discutiremos los siguientes modos de microscopía: modo de resolución, modo de alta corriente, modo de profundidad de foco y modo de bajo voltaje. El diámetro del haz de electrones en la muestra limita la resolución de la imagen, y la cantidad de corriente de electrones en la sonda final determina la intensidad de las señales de electrones y rayos X secundarios y retrodispersados. Lamentablemente, cuanto más pequeña es la sonda de electrones, menor es la corriente de la sonda disponible y peor es la visibilidad de las características de la imagen. El ángulo del rayo cónico que incide sobre la muestra determina la gama de alturas de la muestra que se enfocan simultáneamente. El voltaje de aceleración (kilovoltios) del haz determina la fidelidad de la imagen para representar la superficie real de la muestra. El operador debe controlar estos parámetros del haz para lograr resultados óptimos en cada modo de microscopía. En este capítulo describiremos la columna óptica del haz de electrones, los modos de microscopía y la importante relación entre la corriente de la sonda de electrones y el diámetro de la sonda de electrones (tamaño del punto).Palabras claveAberración esférica Tamaño de la sonda Aberración cromática Ángulo de convergencia Lente del condensador
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Obtener una imagen de bajo aumento (<1000x) de un objeto tridimensional en bruto es notablemente fácil con un MEB. Sin embargo, para obtener toda la información que el MEB puede proporcionar, es necesario comprender los principales modos de microscopía y los parámetros del haz de electrones que los afectan. Discutiremos los siguientes modos de microscopía: modo de resolución, modo de alta corriente, modo de profundidad de foco y modo de bajo voltaje. El diámetro del haz de electrones en la muestra limita la resolución de la imagen, y la cantidad de corriente de electrones en la sonda final determina la intensidad de las señales de electrones y rayos X secundarios y retrodispersados. Lamentablemente, cuanto más pequeña es la sonda de electrones, menor es la corriente de la sonda disponible y peor es la visibilidad de las características de la imagen. El ángulo del rayo cónico que incide sobre la muestra determina la gama de alturas de la muestra que se enfocan simultáneamente. El voltaje de aceleración (kilovoltios) del haz determina la fidelidad de la imagen para representar la superficie real de la muestra. El operador debe controlar estos parámetros del haz para lograr resultados óptimos en cada modo de microscopía. En este capítulo describiremos la columna óptica del haz de electrones, los modos de microscopía y la importante relación entre la corriente de la sonda de electrones y el diámetro de la misma (tamaño del punto).
