¿cómo funciona el sem?
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Un microscopio electrónico de barrido (SEM) es un tipo de microscopio electrónico que produce imágenes de una muestra escaneando la superficie con un haz de electrones enfocado. Los electrones interactúan con los átomos de la muestra, produciendo varias señales que contienen información sobre la topografía de la superficie y la composición de la muestra. El haz de electrones se escanea siguiendo un patrón de barrido de trama, y la posición del haz se combina con la intensidad de la señal detectada para producir una imagen. En el modo más común de SEM, los electrones secundarios emitidos por los átomos excitados por el haz de electrones se detectan mediante un detector de electrones secundarios (detector Everhart-Thornley). El número de electrones secundarios que pueden detectarse, y por tanto la intensidad de la señal, depende, entre otras cosas, de la topografía de la muestra. Algunos MEB pueden alcanzar resoluciones superiores a 1 nanómetro.
Las muestras se observan en alto vacío en un MEB convencional, o en bajo vacío o en condiciones húmedas en un MEB de presión variable o ambiental, y en una amplia gama de temperaturas criogénicas o elevadas con instrumentos especializados[1].
microscopía
Un microscopio electrónico de barrido (SEM) es un tipo de microscopio electrónico que produce imágenes de una muestra escaneando la superficie con un haz de electrones enfocado. Los electrones interactúan con los átomos de la muestra, produciendo varias señales que contienen información sobre la topografía de la superficie y la composición de la muestra. El haz de electrones se escanea siguiendo un patrón de barrido de trama, y la posición del haz se combina con la intensidad de la señal detectada para producir una imagen. En el modo más común de SEM, los electrones secundarios emitidos por los átomos excitados por el haz de electrones se detectan mediante un detector de electrones secundarios (detector Everhart-Thornley). El número de electrones secundarios que pueden detectarse, y por tanto la intensidad de la señal, depende, entre otras cosas, de la topografía de la muestra. Algunos MEB pueden alcanzar resoluciones superiores a 1 nanómetro.
Las muestras se observan en alto vacío en un MEB convencional, o en bajo vacío o en condiciones húmedas en un MEB de presión variable o ambiental, y en una amplia gama de temperaturas criogénicas o elevadas con instrumentos especializados[1].
espectrosc
En un MEB, se emite un haz de electrones desde un cañón de electrones, que se reduce a un tamaño de aproximadamente 0,4-5 nm de diámetro mediante el uso de una o dos lentes condensadoras. A continuación, el haz pasa por un par de bobinas de desviación en la columna de electrones para desviar el haz en los ejes x e y antes de interactuar con la muestra. Esta desviación asegura que el escaneo sea en forma de trama, lo que significa que es un patrón de captura de imagen rectangular de la muestra. Cuando el haz de electrones interactúa con la muestra, pierde energía debido a la dispersión y absorción aleatoria por parte de la muestra. En la Figura 1 se muestra un esquema con los componentes del MEB y su funcionamiento. Además, se ofrece un vídeo en el que se explica el funcionamiento del MEB.
El haz de electrones de un microscopio electrónico de barrido interactúa con los átomos a diferentes profundidades dentro de la muestra para producir diferentes señales que incluyen electrones secundarios, electrones retrodispersados y rayos X característicos. Cada una de estas señales tiene su propio detector en el MEB, como se ve en la figura 1. Los electrones secundarios son electrones de baja energía que son expulsados de las bandas de valencia o de conducción de los átomos de la muestra a través de la dispersión inelástica de los electrones del haz. Los electrones retrodispersados son electrones del haz que se reflejan a través de interacciones de dispersión elástica con los átomos de la muestra. La intensidad de la señal de los electrones retrodispersados depende del número atómico, por lo que puede proporcionar información sobre la distribución de los diferentes elementos en una muestra. Los rayos X característicos se emiten cuando el haz de electrones interactúa con la muestra y elimina un electrón de la capa interna, dando lugar a un electrón de mayor energía que llena la capa y libera energía. La energía o la longitud de onda de estos rayos X puede medirse mediante Espectroscopia de rayos X de energía dispersiva para identificar y medir la abundancia y la distribución de los elementos en la muestra. El haz de electrones absorbido por la muestra se detecta y se utiliza para crear una imagen de la distribución de la muestra. La imagen resultante es un mapa que muestra la intensidad de la señal emitida desde el área de la muestra que se está escaneando, como se ve en la Figura 2. Además, se pueden acoplar detectores EDS al SEM para el análisis elemental.
microscopio electrónico de barrido
Un microscopio electrónico de barrido (SEM) es un tipo de microscopio electrónico que produce imágenes de una muestra escaneando la superficie con un haz de electrones enfocado. Los electrones interactúan con los átomos de la muestra, produciendo varias señales que contienen información sobre la topografía de la superficie y la composición de la muestra. El haz de electrones se escanea siguiendo un patrón de barrido de trama, y la posición del haz se combina con la intensidad de la señal detectada para producir una imagen. En el modo de MEB más común, los electrones secundarios emitidos por los átomos excitados por el haz de electrones se detectan mediante un detector de electrones secundarios (detector Everhart-Thornley). El número de electrones secundarios que pueden detectarse, y por tanto la intensidad de la señal, depende, entre otras cosas, de la topografía de la muestra. Algunos MEB pueden alcanzar resoluciones superiores a 1 nanómetro.
Las muestras se observan en alto vacío en un MEB convencional, o en bajo vacío o en condiciones húmedas en un MEB de presión variable o ambiental, y en una amplia gama de temperaturas criogénicas o elevadas con instrumentos especializados[1].
